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日期:2009-08-14
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1引言
随着半导体工艺技术的不断进步和芯片集成度的不断提高,超深亚微米工艺下超大规模集成电路芯片的成败受到项目从设计到应用各环节的制约,如项目初期芯片面积的确定、封装形式的选择以及芯片架构的制定,芯片设计过程中电路设计的优化调整、低功耗技术的采用,芯片生产后产品的开发应用等。为了确保超大规模集成电路芯片的顺利研发,IBM充分发挥自身的优势,通过整合先进的半导体工艺技术、强大的EDA团队以及丰富的芯片设计经验等多方面的资源,提出了一套贯穿整个芯片产品开发过程的功耗解决方案;该方案可以通过快速而准确的功耗评估、分析,有效地帮助芯片研发人员缩短开发时间,降低成本,提高产品性能。
论文的主要结构如下:第二部分主要介绍了基于功耗分析的工艺库数据库,功耗分析工具以及芯片评估体制;第三部分描述了在IBM的功耗解决方案在芯片设计、实现和生产的过程中具体应用;第四部分通过具体的数据验证了IBM功耗解决方案对芯片设计实现的作用;最后是本文的小结。
2功耗解决方案
IBM的功耗解决方案集完备的工艺数据库、精准的功耗分析工具以及有效的评估机制于一体,为超深亚微米工艺下高性能、低功耗通信芯片从设计到生产交付的顺利实施提供了有力的保障,如图1所示。
图1 IBM功耗分析机制图
2.1工艺数据库
由于所有的功耗评估分析都是基于工艺数据库,工艺数据库的完备性和精确性直接决定了整套功耗解决方案的优劣。IBM结合自身先进的半导体工艺技术和EDA技术,建立了一套完备而精确的工艺数据库为功耗解决方案奠定了坚实基础,包括FW Table(FET Width Table)、NDR(New Delay Rules)、.lib Rules、SRULES(Synthesis Rules)、漏电流模型(Leakage Models)、技术常量(Tech. Constants)等,并提供硬件测试集(Testsite Hardware)和方法学测试样本集(Meth. Testcases)。
随着半导体工艺进入超深亚微米阶段,漏电流功耗占整个芯片功耗的比例越来越大,精确地估算漏电流功耗变得非常重要。基于硬件测试集和方法学硬件测试样本集,IBM提供了一种硬件特征(Hardware Characterized)可执行模型(Executable Module)作为漏电流功耗计算引擎,包括基于物理设计的计算公式(Physics-based Equations)、工艺设计参数(Design Manual Parameters)、技术参数、各单元电路和IP的面积信息、FW Table、 PFET/NFET 比率查找表等;建立了完备的漏电流模型,从而可以在较宽的PVT(Process Voltage Temperature)范围内对芯片中各单元电路和器件的漏电流功耗进行精确的计算分析,具有极强的灵活性。
2.2功耗分析工具
针对项目不同阶段的特点,IBM提供了相应的功耗分析工具:ASIC Power SpreadSheet、ASIC PowerEval、ALSIM系列工具、ASIC PowerToolBench等。
ASIC Power SpreadSheet是一种主要应用于项目早期功耗预估的功耗分析工具。仅需芯片的基本信息,如芯片封装、应用环境参数(PVT)、芯片逻辑信息和工作频率等数据,该工具就能够快速地评估出动态功耗和静态功耗。其优点主要表现为使用方便、易于维护、实时性好、可以对各种低功耗优化技术的实施效果进行快速验证、并提供多阈值电压库的支持。
ASIC PowerEval是一种主要适用于项目中后期功耗分析评估的功耗分析工具。基于含时序信息的网表,结合NDR、SRULES、时序约束文件、PVT信息、芯片内部逻辑电路的翻转因子和存储器的读写概率因子等信息,该工具能实时提供准确的功耗分析结果。其优点主要表现为:分析速度快;具有友好的工具界面和灵活的报告格式;既可以被IBM SOM(Sign-Off Module)调用,方便地继承SOM中的各种参数数据,与其他设计工具协同工作完成SOM流程,又可以单独调用、灵活配置运算参数,从而实现有针对性的功耗分析。
ALSIM (Austin Linear Simulator)系列工具是一套基于IBM的工艺数据库、具有高精度电路仿真功能的工具集。该工具集为芯片功耗分析提供了强有力的补充:ALSIM_PGA是一种对整个芯片(包括MACRO)的电源网格(Power Grid)进行IR drop和EM分析的工具;ALSIM_ESD是一种对芯片I/O进行静电保护(ESD)分析的工具 ;ALSIM_ETIR是一种对逻辑电路进行IR drop分析的工具;ALSIM_TA是一种对芯片电源网格进行瞬态分析的工具。 此外,IBM提供了诸如ASIC Power ToolBench、FWCalc等实现功耗分析的辅助工具。
2.3功耗评估体制
IBM的低功耗评估体制主要包括SOM、IDDQ Screen和SVB(Selective Voltage Binning)。
IBM SOM在项目的各个RTx节点(IDR、RTF、RTP、RTL、RTC、RTM)结合ASIC PowerEval、ALSIM tools等工具的计算结果,对芯片的功耗进行既深入又全面的分析评估。
SVB技术是一项IBM独特的低功耗技术,SVB根据芯片的工艺角(Process Corner)来定义实际的工作电压——对于Fast Chip采用较低的工作电压,而对于slow chip则采用较高的工作电压,如图2所示;这样既能够提高Slow Process的情况下芯片的性能,又能减小Fast Process情况下芯片的功耗,从而达到芯片低功耗高性能的目标。
图2 SVB技术示意图
此外,IBM还提供了一套IDDQ Screen机制结合应用环境参数PVT进行IDDQ测试,并采用override 3 sigma技术对芯片进行严格筛选,确保所交付芯片的漏电流功耗满足预期设计目标。
3功耗解决方案的流程
IBM功耗解决方案套贯穿于芯片产品整个开发过程的(RTx),为芯片产品的成功提供了有力的保证。图3为该方案在芯片开发过程中的应用情况,具体介绍如下:
图3功耗解决方案的流程图
在IDR (Initial Design Review)阶段,根据芯片的基本信息(如芯片封装、应用环境参数(PVT)、芯片规模和工作频率等数据)ASIC Power spreadsheet结合IBM的工艺数据库对芯片进行设计初期的功耗预估。该结果既是评估芯片面积、选择封装类型的重要依据;又为芯片架构的制定(包括IP类型的选取)与系统级低功耗策略的选取提供了有益的参考——如是否采用多电压(Multi-voltage)、电源关断(Power Shut-off)、电压岛(Voltage Islands),门控时钟(Clock-gating)等。
在RTF(Release to Floorplan)阶段,ASIC Power Spreadsheet将基于门级网表进行更进一步的功耗评估,同时ALSIM_PGA和ALSIM_ESD将基于芯片的布局信息(Floorplan)对芯片电源网格的IR Drop、EM以及I/O的静电保护(ESD)情况进行详细的分析;这些信息在项目早期及时反馈给设计师,为芯片架构和电路的设计优化提供可靠的参考数据,并协助设计师合理地选择低功耗技术,如多阈值技术(Multi-Vth)、动态功耗优化(Dynamic Power Optimization)、门控时钟技术等。
在RTP(Release to Preliminary)和RTL(Release to Layout)阶段 ASIC PowerEval将针对布局布线后的芯片信息结合各种工艺角下的工艺数据库文件进行参数提取、功耗分析;此外,ALSIM_TA将对芯片电源电压进行瞬态分析,反馈芯片电源噪声情况; ALSIM_ETIR将对整个芯片逻辑电路进行IR drop分析;从而协助设计师进一步优化设计。完成绕线(Routing)之后,ASIC PowerEval结合基于晶体管级的线路模型和时序信息进行精确的功耗分析。
在RTC(Release to Check)阶段,基于SOM平台ASIC PowerEval将结合ALSIM Tools对芯片设计进行全方面的质量分析,提供精准的功耗数据,为流片成功提供有力保证。
在RTM(Release to Manufacture)阶段,IBM SVB技术将根据工艺角情况对芯片产品进行筛选区分,在提供高质量、高性能芯片产品的前提下进一步降低芯片功耗。
4小结
为了应对超深亚微米工艺下超大规模集成电路芯片所面临挑战——功耗、面积和设计生产周期,IBM提出了一套贯穿于芯片从设计到生产整个开发过程的功耗解决方案。本文系统地介绍了功耗解决方案的各个组成部分,描述了IBM功耗解决方案在项目各阶段的具体实施情况。该功耗解决方案能在项目初期正确选择芯片封装、设计芯片面积,在项目设计实现阶段协助工程师不断优化设计,在项目末期为芯片应用工程师提供高质量、高性能的低功耗芯片产品;从而大大缩短了超大规模集成电路芯片的开发周期、提高了开发效率,并保证交付产品的质量和可靠性。
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